Scanning Electron Microscope (SEM)

Pengujian menggunakan peralatan scanning electron microscope JEOL JSM-6360LA, dilengkapi dengan energy dispersive spectrometer (EDS) system JEOL JED-2300. Alat ini dapat memperbesar objek sampai 300.000 kali dan menentukan kadar unsur kimia secara semi-kuantitatif